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SPM-002-XT64型科研級超高靈敏度光纖光譜儀是目前世界上高靈敏度微型光纖光譜儀產(chǎn)品中靈敏度、分辨率較高的光譜儀之一！
關(guān)鍵字：科學(xué)級高靈敏度光纖光譜儀, 科學(xué)級光纖光譜儀，科學(xué)級光譜儀，背照式CCD光譜儀， 高靈敏度光譜儀
SPM-002-XT64型科研級超高靈敏度光纖光譜儀采用對紫外線感應(yīng)能力的日本濱松出品的薄型背照式（Back-thinned）探測器。它的二維像素陣列為水平2048像素×垂直64像素，是同類產(chǎn)品像素的兩倍！（行業(yè)內(nèi)通常科研級光譜儀像素一般為1048像素×垂直64像素）。可以響應(yīng)波長范圍為200～1100nm的光信號。探測器的64個垂直像素列在數(shù)據(jù)輸出前就累加的，這樣可以使采集數(shù)據(jù)的噪聲小化。
更高的系統(tǒng)靈敏度
由于二維檢測器使光譜儀能很好地利用入射光狹縫的高度，SPM-002-XT64型科研級超高靈敏度光纖光譜儀的靈敏度得到了極大的提高。在通常的光纖光譜儀中，光進(jìn)入需要通過一個狹縫的，線性檢測器不能有效地收集狹縫的整個高度范圍內(nèi)的光。而SPM-002-XT64型科研級超高靈敏度光纖光譜儀使用2048像素×垂直64像薄型背照式（Back-thinned）二維檢測器，可以大大提高來自高度方向的光信號利用率。
主要應(yīng)用領(lǐng)域
SPM-002-XT64型科研級超高靈敏度光纖光譜儀是弱光或極弱光應(yīng)用的好選擇，其應(yīng)用主要包括在熒光光譜測量、拉曼光譜測量、DNA測序、天文學(xué)和薄膜反射等各個方面。
